標題(TITLE) | 半導體測試設備,功率半導體可靠性實驗設備,寬禁帶SIC/GaN測試,雪崩浪涌測試,半導體實驗室系統(tǒng)建設-陜西博微電通科技有限責任公司 |
關鍵詞(KEYWORDS) | 1、半導體分立器件測試: 靜態(tài)參數(shù)測試:針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件以及光耦、可控硅、集成電路及IC進行高精度參數(shù)測試(導通、關斷、擊穿、漏電、增益等)直流參數(shù)測試,分辨率16位ADC/精度0.1%; 動態(tài)雙脈沖測試:(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA等測試。 2、功率半導體可靠性測試: 環(huán)境老化測試:反偏柵偏HTRB/HTGB/ |
描述(DESCRIPTION) | 陜西博微電通科技有限責任公司是一家致力于高精度半導體測試設備、電力電子檢測設備、半導體實驗室系統(tǒng)及電力儲能解決方案的集研發(fā)、生產、銷售的高科技企業(yè)。 |